场发射透射电子显微镜

主要规格及技术指标

场发射灯丝，最高加速电压：200kv；信息分辨率：0.14nm；点分辨率：0.24nm；可用样品台：单倾/低背景双倾Be平台，加热样品台等；

α最大可倾转角度：±45，β最大可倾转角度：±35；EDS配件：EDAX公司能谱；记录系统：HAADF探测器、Gatan 832慢扫描CCD相机

主要功能及特色

高性能的透射电子成像、扫描透射成像、电子衍射分析与EDS能谱分析

钨灯丝透射电子显微镜

主要规格及技术指标

LaB6灯丝，最高加速电压：200kv；可用样品台：单倾/低背景双倾Be平台，α最大可倾转角度：±45，β最大可倾转角度：±35；EDS配件：EDAX公司能

谱，可测元素范围B以上元素；最小标称电子束斑：10 nm；线分辨率：0.144nm；点分辨率：0.234nm；记录系统：平板照相机+gatan 794 慢扫描数码相机

主要功能及特色

衍射衬度像：主要用于观测晶体中的微纳尺度的微观组织结构，如位错，强化相等；质厚衬度像：主要用于观测纳米粉末，生物样品以及高分子样品；相衬

相（高分辨像）：主要用于晶体高分辨晶格相的观测；衍射花样：主要用于晶体结构的分析，位相关系分析；EDS分析：主要用于微区化学成分分析

X射线衍射仪

主要规格及技术指标

18KW高功率，粉末衍射

主要功能及特色

针对粉末多晶样品的物相定性、定量、晶胞参数精修、晶粒尺寸与微观应变。不测量薄膜

衍射仪系统

主要规格及技术指标

1、X射线发生器最大输出功率：3KW；2、X射线管：Cu靶陶瓷管，最大功率2.2KW+

主要功能及特色

1、常规功能：衍射数据测量，物相定性分析，物性定量分析，晶胞动态调整，3D显示等；2、织构测量；3、残余应力测量。 只测量金属材料的织构和应力，应力只针对样品尺寸小于20mm，厚度不超3mm的小样品

场发射扫描电子显微镜

主要规格及技术指标

1.End pressure(≥24h):≦3×10-6mBar TMP; Lower IGP≦5×10-7mBar; Upper IGP≦5×10-9mBar. 2. High resolution at HT=10 KV (or higher): 1.5nm;at HT=1 KV:2.5nm

主要功能及特色

有功能： SE、BSE模式下观察、分析材料的微观形貌及EDS微区成分分析(GENESIS60S能谱 仪，分辨率：131eV)，电子背散射衍射系统（EBSD）(2009年新增)

环境扫描电镜(带能谱仪)

主要规格及技术指标

SEM :3nm 实际形貌观察10nm以上;能谱从Be元素开始识别.

主要功能及特色

1.材料微观组织结构及形貌观察;2.元素成份分析.